210mm標準光學長平晶

 

 

 

 

 產品簡介   Product introduction

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光學測量平面是表面粗糙度數值和平面度誤差都很小的玻璃平面，它能夠產生光波干涉條紋。平晶是具有一個（或兩個）光學測量平面的正圓柱形或長方形的量規；一般用K9光學玻璃或石英玻璃制造。

光學平晶是由玻璃或水晶制成，用來檢查光整鏡面的平面度。平面平晶的一個面是非常光整的鏡面，把它與加工鏡面相接觸，就會產生干涉條紋，通過對此干涉條文的測量，可以求得工件被加工鏡面的平面度。適用于塊規、千分尺、塞尺等量具的測量面的平面度檢測。

常用的平晶有平面平晶、長平晶和平行平晶。

長平晶主要用于以等傾干涉法檢定研磨平尺的平面度。

平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差，平面平晶是用于以干涉法測量塊規，以及檢驗塊規、量規、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。圖1a為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。

圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學測量平面的平面度誤差為：1級精度的為0.03～0.05微米；2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。

平行平晶的兩個光學測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差，例如千分尺兩測量面的平行度誤差（圖1b）。與平面平晶相似，把它與加工鏡面相接觸，就會產生干涉條紋，通過對此干涉條文的測量，可以求得工件被加工鏡面的平面度和平行度。平行平晶的兩面均為高精度的平整鏡面，且相互間的平行度很高，適用于檢測各種計量器具的測量工作面的平面度及平行度。

 

  

 應用范圍   Applications

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平面平晶是用于以干涉法測量塊規，以及檢驗塊規、量規、零件密封面、測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。

平行平晶的兩個光學測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差。

適用于光學加工廠、廠礦企業計量室、精密加工車間、閥門密封面現場檢測使用，也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。

 

 

 測量方法   Working principle

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平晶是利用光波干涉現象測量平面度誤差的，故其測量方法稱為平晶干涉法,也稱技術光波干涉法。測量時,把平晶放在被測表面上,且與被測表面形成一個很小的楔角 θ，以單色光源照射時會產生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關。如入射光線垂直于被測表面，且平晶與被測表面間的間隙很小,則由平晶測量面P反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P發生干涉而出現明或暗的干涉條紋。若在白光下，則出現彩色干涉條紋。如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。

其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)；

λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間距。

 

  

 技術指標   Technical indicators

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1、外形尺寸：

類型	直徑*厚度（mm）		精度	備注
長平晶	210*40*25
	310*40*25
平行平晶	組I	0-25mm	0.6um	4塊/組
	組II	25-50mm	0.6um	4塊/組
	組III	50-75mm	0.8um	4塊/組
	組IV	75-100mm	1.0um	4塊/組
	●  平行平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。 ●  平行平晶具有高精度的平面性和平行性。 ●  平行平晶用于干涉法測量檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規、千分表和千分尺卡規等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。 ●  測量準確度：按《JJG28-2019平晶》標準執行； ●  平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。  ●  測量面上平面度偏差：<0.1μm； ●  平面度局部偏差： 　  >0.03μm； ●  檢驗標準：GB903無色光學玻璃 ●  測量面平行度誤差： 組Ⅰ系列（0-25mm）允許誤差值：0.6μm； 組Ⅱ系列（25-50mm）允許誤差值：0.6μm； 組Ⅲ系列（50-75mm）允許誤差值：0.8μm； 組Ⅳ系列（75-100mm）允許誤差值：1.0μm；  ●  平晶必須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內進行等溫，等溫時間不少于8h。
平面平晶	Φ30*15		1級或2級	單平面平晶/雙平面平晶
	Φ45*15
	Φ60*20
	Φ80*20
	Φ100*25
	Φ150*30
	Φ200*40
	Φ250*45
	Φ300*45
	Φ400*45
	Φ500*50
	Φ600*50
	1、平面平晶制成兩種精度： 1級 和 2級； 2、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為： 直徑30~60mm 1級平晶 0.03μm； 直徑30~60mm 2級平晶 0.1 μm； 直徑80~150mm 1級平晶 0.05μm； 直徑80~150mm 2級平晶 0.1 μm； 直徑200~300mm 1級平晶 0.06μm； 直徑200~300mm 2級平晶 0.1μm； 直徑300~600mm 1級平晶 0.08μm； 直徑300~600mm 2級平晶 0.1μm； （直徑300mm~600mm的平晶 平面度誤差均可以做到0.03μm 達到國際優秀水平 ） 更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據國家標準。 3、平面平晶工作面的局部偏差允許值為： 0.03μm 4、平面平晶測量工作應在室溫2 0℃±3℃條件下保持數小時后進行。 5、平行度誤差：Ⅰ級 0.6μm 6、平晶的材料：A級 光學K9玻璃；檢驗標準 （GB 903-1987 無色光學玻璃） 7、平晶必須放置在(20士5)℃和濕度不大于80 % RH的檢定室內進行等溫，等溫時間不少于8h 注：可以定做正方形、長方形、環形平面平晶，可以定做二等平面平晶，標準樣板。可以帶出報告，可以定做材質為石英平面平晶。

附：平行平晶尺寸表：

組號	0－25	25－50	50－75	75－100
1	15.00，15.12 15.25，15.39	40.00，40.12 40.25，40.37	65.00，65.12 65.25，65.37	90.00，90.12 90.25，90.37
2	15.12，15.25 15.37，15.50	40.12，40.25 40.37，40.50	65.12，65.25 65.37，65.50	90.12，90.25 90.37，90.50
3	15.25，15.37 15.50，15.62	40.25，40.37 40.50，40.62	65.25，65.37 65.50，65.62	90.25，90.37 90.50，90.62
4	15.37，15.50 15.62，15.75	40.37，40.50 40.62，40.75	65.37，65.50 65.62，65.75	90.37，90.50 90.62，90.75
5	15.50，15.62 15.75，15.87	40.50，40.62 40.75，40.87	65.50，65.62 65.75，65.87	90.50，90.62 90.75，90.87
6	15.62，15.75 15.87，16.00	40.62，40.75 40.87，41.00	65.62，65.75 65.87，66.00	90.62，90.75 90.87，91.00

 

 

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鈉光燈-高頻鈉光燈-平晶納光燈箱

   

一、用途：

高精度鈉光燈箱是光學儀器理想的單色光源。主要和平面平晶配套，用于以干涉法測量塊規，以及檢驗塊規、量規、零件密封面、測量儀 器及測量工具量面的研合性和平面度適用于光學加工廠、廠礦企業計量室、精密加工車間、閥門密封面現場檢測使用，也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。

二、主要技術特點： 

1、高精度鈉光燈箱是由特種的抗鈉玻璃吹成管膽，管內充有金屬鈉，外面封接玻璃外殼而成。點燃后能輻射比較強5890A 5896A鈉譜線。具有適應范圍廣、使用壽命長、不受環境溫度影響、燈光穩定無頻閃的特點，可防止低頻燈光源對人眼的傷害。 

2、發光管它的發光效率基本不受環境溫度的影響。其輻射光譜純正、穩定、無雜散光。其發光波長透霧性強，在低功率電光源產品中光效較高，是光學儀器中單色光源理想的選擇。 

3、燈具采用高品質防火、阻燃、環保進口塑料，緊固件采用材料增強安全性，抗振性。 

4、根據光源的特性，燈具反射器采用抗紫外線噴塑增強表面抗腐蝕性。全密封防塵、防水、防眩光設計。 

5、燈具檢測平臺采用特殊阻尼材料，先進的表面噴涂工藝精工制作，增強對被測工件的保護和保證檢測的安全穩定。 

6、檢測平晶范圍直徑300mm（范圍不夠可以定做更大）

7、工作電壓：15+5 功率：20 W 工作電流：1-1.3A